Recent Advances in Metrology, Characterization, and Standards for Optical Digital Data Disks

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Podio, Fernando
Formato: Recurso Eletrônico livro eletrônico
Idioma:inglês
Publicado em: SPIE Digital Library, 11/30/99
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Registros relacionados