Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Wang, Shing-Chung
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 5/17/01
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

פריטים דומים