Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II

Manylion Llyfryddiaeth
Awduron Eraill: Ramesham, Rajeshuni
Fformat: Electronig eLyfr
Iaith:Saesneg
Cyhoeddwyd: SPIE Digital Library, 1/16/03
Pynciau:
Mynediad Ar-lein:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Eitemau Tebyg