Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Ramesham, Rajeshuni
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 1/16/03
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Նմանատիպ նյութեր