Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Meyendorf, Norbert
Formato: Recurso Eletrônico livro eletrônico
Idioma:inglês
Publicado em: SPIE Digital Library, 7/22/03
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)
Descrição
Descrição do item:<strong>On-Campus Access Only (IP based access)</strong>
Descrição Física:1 online resource
Formato:Mode of access: Internet
ISBN:9780819448507
Acesso:Electronic access restricted to authorized AUW faculty, staff and students