Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems III

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Geer, Robert
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 5/9/05
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Նմանատիպ նյութեր