Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems IV

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Geer, Robert
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 3/16/06
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

פריטים דומים