Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems IV

Bibliografske podrobnosti
Drugi avtorji: Geer, Robert
Format: Elektronski eKnjiga
Jezik:angleščina
Izdano: SPIE Digital Library, 3/16/06
Teme:
Online dostop:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne knjige/članki