Ninth International Symposium on Laser Metrology

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Quan, Chenggen
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 10/2/08
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak