Ninth International Symposium on Laser Metrology

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Quan, Chenggen
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: SPIE Digital Library, 10/2/08
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Podobne zapisy