2008 International Conference on Optical Instruments and Technology: Optoelectronic Measurement Technology and Applications

Detalles Bibliográficos
Outros autores: Ye, Shenghua
Formato: Electrónico eBook
Idioma:inglés
Publicado: SPIE Digital Library, 1/1/09
Subjects:
Acceso en liña:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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