Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Kullberg, Richard
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: SPIE Digital Library, 2/6/09
Onderwerpen:
Online toegang:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Gelijkaardige items