Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing III

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Postek, Michael
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: SPIE Digital Library, 8/20/09
Assuntos:
Acesso em linha:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

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