Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices IX

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Kullberg, Richard
التنسيق: الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: SPIE Digital Library, 2/4/10
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

مواد مشابهة