Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices IX

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Kullberg, Richard
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: SPIE Digital Library, 2/4/10
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Antzeko izenburuak