Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices IX

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Kullberg, Richard
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: SPIE Digital Library, 2/4/10
נושאים:
גישה מקוונת:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

פריטים דומים