Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices IX

Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Kullberg, Richard
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: SPIE Digital Library, 2/4/10
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Նմանատիպ նյութեր