Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices IX

Номзүйн дэлгэрэнгүй
Бусад зохиолчид: Kullberg, Richard
Формат: Цахим Цахим ном
Хэл сонгох:англи
Хэвлэсэн: SPIE Digital Library, 2/4/10
Нөхцлүүд:
Онлайн хандалт:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Ижил төстэй зүйлс