Tests, Measurements, and Characterization of Electro-Optic Devices and Systems

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Wadekar, Shekhar
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 1/23/90
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Παρόμοια τεκμήρια