Tests, Measurements, and Characterization of Electro-Optic Devices and Systems

Библиографические подробности
Другие авторы: Wadekar, Shekhar
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: SPIE Digital Library, 1/23/90
Предметы:
Online-ссылка:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Схожие документы