Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices X

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: García-Blanco, Sonia
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: SPIE Digital Library, 2/11/11
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Παρόμοια τεκμήρια