Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices X

Библиографические подробности
Другие авторы: García-Blanco, Sonia
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: SPIE Digital Library, 2/11/11
Предметы:
Online-ссылка:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Схожие документы