Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices X

Chi tiết về thư mục
Tác giả khác: García-Blanco, Sonia
Định dạng: Điện tử eBook
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: SPIE Digital Library, 2/11/11
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:Full text available on Research4Life (SPIE Digital Library)

Những quyển sách tương tự